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                            冲击试样缺口投影仪(CST-50)


                            功能用途
                                符合国标GB/T229-2007《金属材料夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要标,是一种专用于检查夏比V型(深2mm)和U型(深2mm)冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。
                             
                            主要特点
                            本设备是利用光学投影方法,将冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V型或U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。
                             
                            技术参数
                            放大倍数:仪器放大倍率:50×
                                        物镜放大倍率:2.5×
                                        投影物镜放大倍率:20×
                            投影屏直径:Φ180mm
                            工作台尺寸:方工作台:110×125mm
                                          圆工作台:Φ90mm
                                          工作台玻璃:Φ70mm
                            工作台行程:纵向:±10mm
                                          横向:±10mm
                                          升降:±12mm(无刻度)
                            工作台转动范围:0-360°(无刻度)
                            光源:12V,100W(卤钨灯)
                            外形尺寸:515×224×603mm
                            重量:18kg